通用运放测试仪的制作

香颂

      利用运算放大器输入的比较特性设计，制作运算放大器测试仪能够进行快速、准确地判测所测运放的好坏，在元器件选择中十分有用。笔者在指导学生实训过程中。用此小仪器去挑选购买的运算放大器{包括部分拆机品}效果非常好。
电路原理
      测试仪基本设计思路是将待测运算放大器(图中IC1,IC2,IC3,IC4)接成比较器结构．当V+>V-时，Vout为正电源状态．接近Vcc，发光二极管Vd1发光。当V+V+．Vd2发光。电阻R5、R6、C1、C2构成电源分裂电路。将9V电源分成2*4.5V。使Ve=0v即Vdd=+4.5v,Vee=-4.5v．满足运算放大器双电源应用的要求。
      电路中R7-R14为输入端串联电阻，目的是当测试多运算放大器时。其中某一运算放大器输入端损坏后不影响其他运算放大器的测试，电路设计中用二个8脚，一个14脚DIP插座．从而满足通用型单，双，四运放的测试。测试仪原理见下图。

运放测试仪的调试
      测试仪有二个八脚一个十四脚集成电路DIP插座，结合发光二极管和电源构成。插座1用于测量单运放，7脚接电源正．4脚接电源负，2脚输入负．3脚输入正6脚输出。插座2测量双运放，8脚为电源正，4脚为电源负，2，6脚输入负。3，5脚输入正．1，7脚为输出。插座3测量四运放，4脚为电源正，11脚为电源负，2、6、9、13脚输入负3、5、10、12脚输入正1、7、8、14脚为输出。电路图中IC1、IC2、IC3是作为原理给于说明。实际上插座1，插座2，插座3的接线应按以上进行连接，只要接线正确，几乎不用调试。R5、R6应尽可能相等．确保为虚地。R5、R6由于是电源裂变电阻又是发光二极管的限流电阻。可在200—510欧间选择。阻值小，发光亮，耗电大。阻值大，发光弱，不易观察。R1、R2、R3、R4应尽可能相等．保证偏置为“地”。阻值在10k—100k中间选择Rp为同数量级的线性电位器，在中间做一个刻度线，以便调节。(电路图上所标电阻的数值仅供参考，制作时可根据手中已有的电阻去做选择)VD1-VD8选择异色发光二极管便于区分。测量前关掉电源，将插入待测集成电路，单运放，双运放，四运放要分别插入对应的插座中，注意管脚位置不能插反，然后闭合K调节Rp观察，根据发光管状态判其好坏，测试完后断电，取下集成电路。注意不能带电插拔集成电路，以免造成集成电路的损坏。
运放测试仪使用方法
      将被测单运放(IC1)插入插座DIP1中，接通电源向下调节Rp，Vd1发光：向上调节Rp，Vd2发光，当RP处在中间位置时。输出为零，Vd1、Vd2发微光。在进行双运放测试时，把被测双运放(IC1．IC2)插入插座DIP2中，向下调节Rp，Vd1、Vd3亮。向上调节Rp，Vd2、Vd4发光；在对四运放(IC1，IC2,IC3,IC3)进行测试时。被测运放插入插座DIP3中，向下调节Rp。Vd1、Vd3、Vd5、Vd7发光；向上调节Rp．Vd2、Vd4、Vd6、Vd8发光。测试中不必去寻找中点，只要观察发光管的变化状态，就能判断其比较特性的优劣。对于多运放的测试。应当慢慢调节Rp．以便观察发光二极管的发光亮度及亮灭时间差异来判断其多运放的一致特性。如果在测试中调节RP时只有一种状态，而不变化，说明该运放已失去比较特性而损坏，不能使用。
小结
      笔者用此小仪器对单运放LM741．CA3140，CA3130，NE5534。双运放LM358，MC1458，TL062．TL082．四运放LM324，TL084，LM747进行了测试。效果理想．特别是对拆机元件进行筛选，非常有用。

来源：科技那回事作者：zhanghao

香颂

方案二
测试电路并不复杂。振荡部分由CA3140形成，CA3140作为方波发生器连接。输出（引脚6）的高/低频率大约为2Hz。该信号控制T1，T1导致绿色LED（D8）以这种节奏闪烁。引脚2上的发生器也输出了三角信号。该信号与固定电压一起（通过P1）施加到开关S2。该开关已接线，因此可以反转其输出I + / I-。三角信号和固定电压（Vref）施加到比较器的同相和反相输入。比较器的所有输入（单路，双路，四路）相互连接，因此执行相同的功能。每个比较器的输出都有一个集电极开路，并且如果三角信号高于/低于Vref，则交替地接地。因此，当比较器完成其工作时，输出（D1..D7）上的LED最终还将闪烁至方波发生器的节奏。例如，如果它有缺陷，则所讨论的LED将不会或将始终点亮，这意味着IC有缺陷。

香颂

方案三：
这是一款具有方波振荡器的简单测试仪，适用于单和双运算放大器（运放）。这些运算放大器广泛用于不同的项目。您可以使用和重复使用这些放大器，但是在新项目和不同项目中使用运算放大器之前，通常需要对其进行测试。

有许多单个运放以不同的名称提供，例如NE5534，TL071和LM741，每个都在压摆率，输出驱动能力和其他参数上有显着差异。您需要比较这些参数以选择最适合您的应用程序的参数。这是设计用于解决这些问题的简单运算放大器测试器电路。

电路与工作
运放简单测试仪的电路图如图1所示。它围绕单运算放大器TL061（IC1）和TL071（IC2），双运算放大器NE5532（IC3），十六个开/关开关构建。（S1至S16）和其他一些组件。
该电路可非常方便地用于测试两个单运放（IC1和IC2）和一个双运放（IC3）。有时，很难决定在一个项目中使用两个单运放还是一个双运放。在这种情况下，您需要将两个单运放的参数与双运放的参数进行比较。IC1和IC2以及IC3可以是同一类型，例如分别为NE5534和NE5532。
该电路在选择开关S1至S4上产生五个测试输出频率。IC1的测试输出频率在下一页的表中给出。使用S5至S8测试IC2，并使用S9至S16测试IC3。对于IC2和IC3，您可以具有相同的测试频率。
简易运算放大器测试仪

IC3可以在相同或不同的频率下进行测试。由于IC3是双运放，因此在某些情况下，IC3的一个内置运放可以工作，而另一个运放损坏了，反之亦然。（请注意，如果损坏，您将无法获得表中列出的输出频率。）
该电路使用双极性电源工作，但是IC1，IC2和IC3具有相同的电源线。电源可以是对称的也可以是非对称的，这将改变输出信号的参数。该电路在运放的全部电源范围内工作。最大电源受限于运算放大器，测试仪电路中使用的电容器的最大额定电压以及运算放大器的驱动能力。
测试的输出频率可以根据需要轻松地进行大规模更改。运算放大器的驱动能力可以在外部负载下进行测试。为此，每个被测运算放大器都有一条直接输出线以及带有100欧姆串联电阻的输出。如果直接在容性和感性负载下进行测试，则运放将不稳定，因此输出端将提供100欧姆电阻。
电路不需要任何调整即可正常运行。它可用于测试许多运算放大器，包括LM741和MC1458等低速运算放大器，以及OPA132和OPA134等较快的运算放大器。